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안녕하세요

주식회사 창신기술 입니다.

특허 내용대로 콘센트를 제외한 전도체를 꽂았을 때 전류가 잘 차단이 잘 되는지를 검사 할 수 있는지를 검사 할수 있는지 확인하고자합니다.

혹시 이러한 검사 진행이 kcr에서 가능할까요?

가능하다면 비용과 기간 문의드립니다.

특허 원본과 멀티탭 사진 첨부합니다.

감사합니다!